検査・調査用測定機器
設備概要 所有設備一覧(各種測定機器) 所有設備一覧(調査用測定機器)
設備概要
表面欠陥検査装置をはじめ、機械的特性や解析などの各種測定機器を所有しております。
表面欠陥分類検査(CCD検査ライン)
表裏同時外観検査による両面保証が可能です。
検出物はオールデジタル処理により、画像・大きさ・波形・位置情報がデータ化され、検査記録として保管されます。
リアルタイム特徴分類処理を施し、ご要望に応じた欠陥分類検査が可能です。
所有設備一覧
■各種測定機器
設備名 |
台数 |
備考【JIS規格】 |
CCD検査ライン |
1台 | 表面欠陥分類検査 |
硬さ試験機(HV0.05~HV1) | 1台 |
【JIS Z 2244】 ビッカース硬さ試験-試験方法 |
硬さ試験機(HV1~HV30) | 1台 | |
引張試験機 | 1台 |
【JIS Z 2241】 金属材料引張試験方法 |
表面粗さ測定器 | 1台 |
【JIS B 0633】 製品の幾何特性仕様(GPS) -表面性状:神格曲線方式 -表面性状評価の方式及び手順 |
ばね限界値試験機(繰り返しタワミ式) | 1台 |
【JIS H 3130-7.4】 繰り返しタワミ試験またはモーメント式試験 |
ばね限界値試験機(モーメント式) | 1台 | |
蛍光X線膜厚測定機 | 1台 | |
引っ掻き試験機 | 1台 | |
エリクセン試験機 | 1台 | 【JIS Z 2247】 エリクセン試験方法 |
磁気測定装置 | 1台 | |
抵抗測定器 | 1台 | |
測定投影機 | 1台 | 【JIS B 7184】 測定投影機 |
■調査用測定機器
設備名 |
台数 |
備考【JIS規格】 |
蛍光X線成分分析装置 |
1台 | |
走査型電子顕微鏡(SEM) | 1台 | +EDX(元素分析が可能) |
走査型電子顕微鏡(FESEM) | 1台 | +EBSD(結晶方位解析が可能) |
ソルダーチェッカー | 1台 | |
鏡面光沢度計 | 1台 |
【JIS K 5600-4-7】 塗料一般試験方法 -第4部 : 塗膜の視覚特性-第7章 : 鏡面光沢度 |
デジタルマイクロスコープ | 1台 | |
高精度疲労試験機 | 1台 |
卓上型 : 荷重範囲2.5-1000N(JIS 0.5級) 【JIS Z 2273】 金属材料の疲れ試験方法通則 【JIS Z 2275】 金属平板の平面曲げ疲れ試験方法 |
シャルピー衝撃試験機 | 1台 | 【JIS Z 2242】 金属材料のシャルピー衝撃試験方法 |


