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検査・調査用測定機器

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設備概要

表面欠陥検査装置をはじめ、機械的特性や解析などの各種測定機器を所有しております。

 

表面欠陥分類検査(CCD検査ライン)

表裏同時外観検査による両面保証が可能です。

検出物はオールデジタル処理により、画像・大きさ・波形・位置情報がデータ化され、検査記録として保管されます。
リアルタイム特徴分類処理を施し、ご要望に応じた欠陥分類検査が可能です。

 

 所有設備一覧

 ■各種測定機器

設備名

台数

備考【JIS規格】

CCD検査ライン

1台 表面欠陥分類検査
硬さ試験機(HV0.05~HV1) 1台

【JIS Z 2244】 ビッカース硬さ試験-試験方法

硬さ試験機(HV1~HV30) 1台
引張試験機 1台

【JIS Z 2241】 金属材料引張試験方法

表面粗さ測定器 1台

【JIS B 0633】 製品の幾何特性仕様(GPS)

 -表面性状:神格曲線方式

 -表面性状評価の方式及び手順

ばね限界値試験機(繰り返しタワミ式) 1台

【JIS H 3130-7.4】

繰り返しタワミ試験またはモーメント式試験  

ばね限界値試験機(モーメント式)  1台
蛍光X線膜厚測定機 1台  
引っ掻き試験機 1台  
エリクセン試験機 1台 【JIS Z 2247】 エリクセン試験方法
磁気測定装置 1台  
抵抗測定器 1台  
測定投影機 1台 【JIS B 7184】 測定投影機

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 ■調査用測定機器

設備名

台数

備考【JIS規格】

蛍光X線成分分析装置

1台  
走査型電子顕微鏡(SEM) 1台 +EDX(元素分析が可能)
走査型電子顕微鏡(FESEM) 1台 +EBSD(結晶方位解析が可能)
ソルダーチェッカー 1台  
鏡面光沢度計 1台

【JIS K 5600-4-7】 塗料一般試験方法

 -第4部 : 塗膜の視覚特性-第7章 : 鏡面光沢度

デジタルマイクロスコープ 1台  
高精度疲労試験機 1台

卓上型 : 荷重範囲2.5-1000N(JIS 0.5級)

【JIS Z 2273】 金属材料の疲れ試験方法通則

【JIS Z 2275】 金属平板の平面曲げ疲れ試験方法

シャルピー衝撃試験機 1台 【JIS Z 2242】 金属材料のシャルピー衝撃試験方法

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